FT-IR 분광계FTIR
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가스 크로마토그래프 질량분석기High Resolution Gas Chromatograph Mass Spectrometer
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고분해능 질량분석기Q Exactive Orbitrap Mass Spectrometer
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공초점현미경Confocal microscope
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나노 입자 추적 분석기Nano particle Tracking Analyzer
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동적광산란 입도분석기DLS(Dynamic Light Scattering)
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라만분광분석기Raman spectrometer
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마스크 얼라이너Mask Aligner
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마이크로플레이트 리더Microplate reader
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박막 분광분석기 (엘립소미터)Ellipsometer
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스핀코터Spin-coater
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알파스텝 프로파일러Alpha-step Profiler
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열중량분석기/시차주사열량계TGA/DSC
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유세포분석기Flow cytometry
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자외선-가시광선 분광분석기UV-Vis spectroscopy
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주사전자현미경(SEM)Mini-SEM
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초고분해능 형광 현미경 시스템Multi-functional optical imaging system
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토모큐브 (형광 홀로토모그래피 현미경)Tomocube
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형광광도계PL (Photo-Luminescence)
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형광현미경Fluorescence microscope
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박막 분광분석기 (엘립소미터)
Ellipsometer
- • 설치장소
- C동 211호
- • 모델
- Elli-SE
- • 제조사
- 엘립소테크놀러지
- • 담당자
| 담당자(1) | 김상섭 / tjqtjq21@gmail.com |
|---|---|
| 담당자(2) | 이지호 / deewigo@snu.ac.kr |
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Spectroscopic Ellipsometer(SE), the industry standard technology that enables one to accurately measure thickness and optical constants of thin film, simultaneously, is used for characterization of a variety of materials (e.g., dielectrics, semiconductors, organics, etc.) including AR coatings, OLED, and low(high)-materials.
광원은 최소한 측정하기 15~20분전에 미리 켜 두어야 측정 data의 오차를 줄일 수 있습니다.
장비 예약 권한은 사용자 교육이 완료된 후 부여됩니다.
6. Elipsometer manual.pdf (365 KB)
