FT-IR 분광계FTIR
고장
고분해능 질량분석기Q Exactive Orbitrap Mass Spectrometer
정상
공초점현미경Confocal microscope
정상
동적광산란 입도분석기DLS(Dynamic Light Scattering)
정상
마스크 얼라이너Mask Aligner
정상
마이크로플레이트 리더Microplate reader
정상
박막 분광분석기 (엘립소미터)Ellipsometer
정상
스핀코터Spin-coater
정상
알파스텝 프로파일러Alpha-step Profiler
정상
열중량분석기/시차주사열량계TGA/DSC
정상
유세포분석기Flow cytometry
정상
자외선-가시광선 분광분석기UV-Vis spectroscopy
정상
주사전자현미경(SEM)Mini-SEM
정상
초고분해능 형광 현미경 시스템Multi-functional optical imaging system
정상
토모큐브 (형광 홀로토모그래피 현미경)Tomocube
정상
형광현미경Fluorescence microscope
정상
박막 분광분석기 (엘립소미터)
Ellipsometer
- • 설치장소
- C동 211호
- • 모델
- Elli-SE
- • 제조사
- 엘립소테크놀러지
- • 담당자
| 담당자(1) | 김상섭 / tjqtjq21@gmail.com |
|---|---|
| 담당자(2) | 이지호 / deewigo@snu.ac.kr |
정상
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Spectroscopic Ellipsometer(SE), the industry standard technology that enables one to accurately measure thickness and optical constants of thin film, simultaneously, is used for characterization of a variety of materials (e.g., dielectrics, semiconductors, organics, etc.) including AR coatings, OLED, and low(high)-materials.
광원은 최소한 측정하기 15~20분전에 미리 켜 두어야 측정 data의 오차를 줄일 수 있습니다.
장비 예약 권한은 사용자 교육이 완료된 후 부여됩니다!!
6. Elipsometer manual.pdf (365 KB)
