FT-IR 분광계FTIR
고장
가스 크로마토그래프 질량분석기High Resolution Gas Chromatograph Mass Spectrometer
셋업
고분해능 질량분석기Q Exactive Orbitrap Mass Spectrometer
정상
공초점현미경Confocal microscope
정상
나노 입자 추적 분석기Nano particle Tracking Analyzer
셋업
동적광산란 입도분석기DLS(Dynamic Light Scattering)
정상
라만분광분석기Raman spectrometer
정상
마스크 얼라이너Mask Aligner
정상
마이크로플레이트 리더Microplate reader
정상
박막 분광분석기 (엘립소미터)Ellipsometer
정상
스핀코터Spin-coater
정상
알파스텝 프로파일러Alpha-step Profiler
정상
열중량분석기/시차주사열량계TGA/DSC
정상
유세포분석기Flow cytometry
정상
자외선-가시광선 분광분석기UV-Vis spectroscopy
정상
주사전자현미경(SEM)Mini-SEM
정상
초고분해능 형광 현미경 시스템Multi-functional optical imaging system
정상
토모큐브 (형광 홀로토모그래피 현미경)Tomocube
정상
형광광도계PL (Photo-Luminescence)
정상
형광현미경Fluorescence microscope
정상
FT-IR 분광계
FTIR

- • 설치장소
- D동 511호
- • 모델
- DE/Alpha
- • 제조사
- Bruker optik
- • 담당자
담당자(1) | 류수현 / ryusuhyun1@snu.ac.kr |
---|---|
담당자(2) | 이지호 / deewigo@snu.ac.kr |
고장
로그인하시면, 장비예약이 가능합니다.
로그인
- 스펙트럼 범위: 350 – 8,000 cm-1
- 신호대잡음비 (S/N비): 55,000:1 (1분 측정 @4cm-1 분해능)
- 분해능: 2.0 cm-1 (옵션: 0.75 cm-1)
- 파수 정확성: <0.05 cm-1 @ 2,000 cm-1
- 파수 재현성: <0.0005 cm-1 (표준편차 10회 반복 층정 기준)
- 측광학적 정확도: >0.1% T
- 온도 변화에 따른 100% 라인 안정성: <1%/°C
- 간섭계: RockSolidTM, 영구적인 정렬 (얼라인먼트 필요 없음)
- 광학계: Gold Coated
- 검출기: 고감도 DLATGS
- A/D Converter: True 24bit Dynamic range
- Validation: 자동OQ/PQ (내부 표준물질 장착) EU Pharmacopeia. Chapter 2.2.24, 21 CFR Part 11 준수
- 자동 악세서리 인식: 장착된 분석 악세서리는 자동 인식되어 최적의 측정 Parameter를 자동 설정
- PermasureTM: 실시간 & 상시 설비 자동 상태점검 및 진단. 하드웨어 및 소모품 상태 확인
- 분석 가능 모드: 투과, ATR (온도 조절), 가스셀 (5cm ~ 4.8m), 난반사, 전반사, 확산반사 등
- 크기: 22 x 31 x 14 cm (폭 x 길이 x 높이)
- 중량: 7 kg
- 소모 전력: 100 – 240 VAC, 50 – 60 Hz, 20W
* 주의: 사용 시, 팁이 충분히 맞춰주어야 올라갔는지 확인 후 홀더를 내려준 뒤 뒷 부분 조절장치를 돌려 팁을 plate에 합니다. 팁이 충분히 올라가지 않은 상태에서 홀더를 그냥 내릴 시, plate가 깨지게 됩니다.
- 노트북 전원을 켠 뒤, 바탕화면 OPUS 프로그램(비밀번호: OPUS)을 실행
- Plate 를 70% 알코올과 킴테크 티슈를 이용해 이물질이 돌려 팁 부분이 위로 충분히 올라가 있는지 확인.
- 좌측의 Advanced measurement 클릭 후, 저장 폴더와 파일 이름 설정
- Background signal 조절장치를 측정 : 기기 Plate 부분에 이물질이 없는지 천천히 조절하여 팁이 plate에 살짝 닿을 확인 후, 홀더를 내려준 뒤, 뒷 정도로 붙여준다. 부분 다음으로, Background signal channel 클릭한 뒤 측정을 기다림.
(팁이 plate 에 닿는 힘이 강할 경우 plate가 깨질 수 있으므로 주의) - Sample loading : plate 홀더를 올리고 뒷 에 소량 올려준다. (다시 부분 조절장치를 조절하여 홀더를 내렸을 때 팁이 시료에 팁을 충분히 올려준 뒤 닿지 않아야 함) 홀더를 시료를 다시 내린 뒤, 조절장치를 조절하여 팁이 시료에 살짝 닿을 정도로 내려준다.
- Sample signal 측정 : plate 위에 기다림 시료가 준비되었으면 Sample signal channel 클릭한 뒤 측정을 기다림.
- Baseline correction / Peak picking : correction 필요에 따라 Baseline을 맞추기 위해서는 좌측의 Baseline 탭을 클릭할 수 있으며, Peak picking 기능을 통해 자동으로 Peak 값을 표시할 수 있음.
- 측정이 끝나면, 홀더를 올리고 70% 알코올과 킴테크 티슈를 이용해 plate를 깨끗하게 부분 조절장치를 돌려 팁을 충분히 올려준다. 닦아준 뒤, 뒷부분 조절장치를 돌려 팁을 충분히 올려준다. 노트북 전원을 끄고 마무리.
10. FT-IR manual.pdf (569 KB)