FT-IR 분광계FTIR
고장
가스 크로마토그래프 질량분석기High Resolution Gas Chromatograph Mass Spectrometer
셋업
고분해능 질량분석기Q Exactive Orbitrap Mass Spectrometer
정상
공초점현미경Confocal microscope
정상
나노 입자 추적 분석기Nano particle Tracking Analyzer
셋업
동적광산란 입도분석기DLS(Dynamic Light Scattering)
정상
라만분광분석기Raman spectrometer
정상
마스크 얼라이너Mask Aligner
정상
마이크로플레이트 리더Microplate reader
정상
박막 분광분석기 (엘립소미터)Ellipsometer
정상
스핀코터Spin-coater
정상
알파스텝 프로파일러Alpha-step Profiler
정상
열중량분석기/시차주사열량계TGA/DSC
정상
유세포분석기Flow cytometry
정상
자외선-가시광선 분광분석기UV-Vis spectroscopy
정상
주사전자현미경(SEM)Mini-SEM
정상
초고분해능 형광 현미경 시스템Multi-functional optical imaging system
정상
토모큐브 (형광 홀로토모그래피 현미경)Tomocube
정상
형광광도계PL (Photo-Luminescence)
정상
형광현미경Fluorescence microscope
정상
박막 분광분석기 (엘립소미터)
Ellipsometer
- • 설치장소
- C동 211호
- • 모델
- Elli-SE
- • 제조사
- 엘립소테크놀러지
- • 담당자
| 담당자(1) | 김상섭 / tjqtjq21@gmail.com |
|---|---|
| 담당자(2) | 이지호 / deewigo@snu.ac.kr |
정상
로그인하시면, 장비예약이 가능합니다.
로그인
Spectroscopic Ellipsometer(SE), the industry standard technology that enables one to accurately measure thickness and optical constants of thin film, simultaneously, is used for characterization of a variety of materials (e.g., dielectrics, semiconductors, organics, etc.) including AR coatings, OLED, and low(high)-materials.
광원은 최소한 측정하기 15~20분전에 미리 켜 두어야 측정 data의 오차를 줄일 수 있습니다.
장비 예약 권한은 사용자 교육이 완료된 후 부여됩니다.
6. Elipsometer manual.pdf (365 KB)
